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扫描电子显微镜

Scanning Electron Microscope

 
 
 
 
 

日志

 
 

扫描电镜/能谱仪定量分析之:轻元素分析  

2011-12-27 15:19:51|  分类: 默认分类 |  标签: |举报 |字号 订阅

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驰奔 编辑(转载请注明出处)

       探测器窗口对低能X射线的吸收,限制了轻元素的探测,当前普遍使用超薄窗口材料探测器,可接收的x射线能量低至100ev,然而很不幸,这些轻元素还是不能通过直接测定X射线强度来进行和重量大于NA元素同样置信度的定量分析。在质量吸收系数和清理补偿污染效应的困难等方面的不确定因素是使用ZAF修正方案的主要障碍。
       轻元素的精确定量分析是一个复杂过程,对于固体材料微区或者表面成分分析主要采用的手段依然是俄歇能谱仪。

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